Assessing the Composition of Wide Bandgap Compound Semiconductors by Atom Probe Tomography: A Metrological Problem - Université Côte d'Azur

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Journal Articles Microscopy and Microanalysis Year : 2016

Assessing the Composition of Wide Bandgap Compound Semiconductors by Atom Probe Tomography: A Metrological Problem

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L. Rigutti

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Groupe de physique des matériaux

L. Mancini

Function : Author

Groupe de physique des matériaux

Centre de Nanosciences et de Nanotechnologies [Orsay]

E. Di Russo

Function : Author

Groupe de physique des matériaux

I. Blum

Function : Author
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Groupe de physique des matériaux

F. Moyon

Function : Author

Groupe de physique des matériaux

W. Lefebvre

Function : Author
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Groupe de physique des matériaux

D. Blavette

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Groupe de physique des matériaux

F. Vurpillot

Function : Author
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Groupe de physique des matériaux

E. Giraud

Function : Author

Institute of Condensed Matter Physics [Lausanne]

J.F. Carlin

Function : Author

Institute of Condensed Matter Physics [Lausanne]

R. Butté

Function : Author
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Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne

N. Grandjean

Function : Author
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Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne

N. Gogneau

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Centre de Nanosciences et de Nanotechnologies [Marcoussis]

L. Largeau

Function : Author

Laboratoire de photonique et de nanostructures

F. H. Julien

Function : Author

Centre de Nanosciences et de Nanotechnologies [Marcoussis]

M. Tchernycheva

Function : Author

Institut d'électronique fondamentale

J.M. Chauveau

Function : Author

Centre de recherche sur l'hétéroepitaxie et ses applications

M. Hugues

Function : Author

Centre de recherche sur l'hétéroepitaxie et ses applications

Domains

Condensed Matter [cond-mat]

Etienne Talbot : Connect in order to contact the contributor

https://hal.science/hal-01954232

Submitted on : Thursday, December 13, 2018-3:19:28 PM

Last modification on : Friday, March 24, 2023-2:53:09 PM

Dates and versions

hal-01954232 , version 1 (13-12-2018)

Identifiers

HAL Id : hal-01954232 , version 1
DOI : 10.1017/S1431927616004104

Cite

L. Rigutti, L. Mancini, E. Di Russo, I. Blum, F. Moyon, et al.. Assessing the Composition of Wide Bandgap Compound Semiconductors by Atom Probe Tomography: A Metrological Problem. Microscopy and Microanalysis, 2016, 22 (S3), pp.650-651. ⟨10.1017/S1431927616004104⟩. ⟨hal-01954232⟩

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CEA CNRS INSA-ROUEN COMUE-NORMANDIE CEA-UPSAY UNIV-PARIS-SACLAY GPM UNIV-COTEDAZUR UNIROUEN ENSICAEN UNICAEN INSA-GROUPE UP-SCIENCES GS-PHYSIQUE CRHEA C2N

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