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Bienvenue sur la collection HAL de l'équipe SFD du LARIS
Direction | Laurent SAINTIS
Référent·e HAL | Marie-Françoise GÉRARD
Fichiers
Références
Proportion d'Open Access
Mots-Clés
Dernières parutions
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Jaber Al Rashid, Mohsen Koohestani, Laurent Saintis, Mihaela Barreau. Degradation and Reliability Modeling of EM Robustness of Voltage Regulators Based on ADT: An Approach and A Case Study. IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 2024, 24 (1), pp.2-13. ⟨10.1109/TDMR.2023.3340426⟩. ⟨hal-04334074⟩